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概述：
本儀器采用四探針接觸式原理，用于測量導電膜層的面電阻，又稱方塊電阻。
測量對象：Low-E導電鍍膜玻璃
TCO光伏玻璃、ITO玻璃、觸摸屏玻璃
透明導電薄膜材料
人工合成金屬片及導電紙
其他導電材料
特性：
高精度接觸測量；
專用于大面積平板鍍膜測量
探針直徑大，針頭光滑，能伸縮，不易劃傷膜層；
多個量程范圍可自動選擇；
校準數據和測量結果自動存儲；
串行數據接口；
以Ohm/sq或Siemens/sq顯示數據
技術參數：
測量方法：四探針式測量；
測量速度：2秒；
測量范圍:0～200K Ohm；
操作溫度：0～50℃；
電池持續時間：4～6小時；
外形尺寸300mm×290mm×120mm；
重量：約2.7kg。
說明：
配套附件包括：測量探頭SDKR-13一個、測量探頭SDKR-25一個、校準箱E-500一個、串行數據線一根。
生產商：德國NAGY