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極速分光光譜測量
45°/60°偏角色差測量
雙銀和三銀Low-E鍍膜玻璃廠家
必備之選
符合GB/T18915.1-2002 《陽光控制鍍膜玻璃》標準
符合GB/T18915.2-2002《低輻射鍍膜玻璃》標準
測量對象：單銀、雙銀、三銀Low-E鍍膜玻璃
中空玻璃玻璃
各種顯示玻璃
本儀器用于測量建筑玻璃、顯示玻璃、電子玻璃等行業中的各種功能玻璃在大角度觀察下的光譜反射
比、顏色和色差。
對于較厚膜層大角度條件下的色差要比垂直觀測條件下明顯，例如雙銀、三銀Low-E玻璃在小角度測
量條件下色差合格，但在大角度下觀測可能會出現非常明顯的色差。
測量對象：單銀、雙銀、三銀Low-E鍍膜玻璃
中空玻璃
各種顯示玻璃
儀器功能：用于測量和評估鍍膜玻璃在大角度反射測量條件下的偏角色差。
可 檢 測 R ( λ ) 、 Y x y 、 L * a * b * 、 Δ E 值 。
滿足標準：GB/T18915.1-2002《陽光控制鍍膜玻璃》 GB/T18915.2-2002《低輻射鍍膜玻璃》標準。
自主知識產權專利產品；
可測量大尺寸單片或中空Low-E玻璃；
45°或60°觀測角下的色差測量；
明室條件下快速分光測量，適合工廠的大量數據測試；
| 測量幾何條件 | 波長范圍 380nm～780nm (Filmeasure2200) 380nm～1000nm (Filmeasure 2201) 45°： 45° 60°： 60° (可定制其它角度) |
| 儀器光源 | 反射比測量范圍 儀器用鹵素燈 0～100% |
| 光譜半寬度 | 重復測量精度 3～5nm △E*＜0.1(標準差) |
| 波長準確度 | 接口模式 0.3nm 以太網 |
| 光譜測量間隔 | 儀器尺寸 1nm 550mm×610mm×516mm |
| 光譜儲存間隔 | 電源要求 5nm AC100V~240V 3A |
| 測量速度 | 最大功率 全光譜測量小于1s/次 1kW |